通訊用發(fā)光二極體可靠度試驗(yàn)

作者:江志宏

說(shuō)明：

通訊用發(fā)光二極體失效判定：
提供固定電流比較光輸出功率，偌大于10%的誤差則判定失效

機(jī)械穩(wěn)定性試驗(yàn)：

沖擊試驗(yàn)：5tims/axis、1500G、0.5ms 振動(dòng)試驗(yàn)：20G、20～2000Hz、4min/cycle、4cycle/axis 液體熱沖擊試驗(yàn)：100℃(15sec)←→0℃(5sec)/5cycle 銲錫耐熱性：260℃/10秒/1次 銲錫附著性：250℃/5秒

耐久性試驗(yàn)：

加速老化試驗(yàn)：85℃/通電(最大額定功率)/5000小時(shí)、10000小時(shí)
高溫保存：最大額定保存溫度/2000小時(shí)
低溫保存試驗(yàn)：最大額定保存溫度/2000小時(shí)
溫度循環(huán)試驗(yàn)：-40℃(30min)←85℃(30min)、RAMP：10/min、500cycle
耐濕性試驗(yàn)：40℃/95%/56天、85℃/85%/2000小時(shí)、封膠時(shí)

通訊二極體元件篩選試驗(yàn)：

溫度篩選試驗(yàn)：85℃/通電(最大額定功率)/96小時(shí) 篩選失效判定：固定電流比較光輸出功率，偌大于10%的誤差則判定失敗

通訊二極體模組篩選試驗(yàn):

步驟一：溫度循環(huán)篩選：-40℃(30min)←→85℃(30min)、RAMP：10/min、20cycle、不送電
步驟二：溫度篩選試驗(yàn)：85℃/通電(最大額定功率)/96小時(shí)