整理與介紹目前環(huán)境試驗(yàn)當(dāng)中，使用者在使用環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備，以及對(duì)于規(guī)范的要求常遇見(jiàn)的問(wèn)題與迷失，若您有下述相關(guān)問(wèn)題歡迎您與業(yè)務(wù)部聯(lián)繫，我們將竭誠(chéng)為您服務(wù)。
- 離子遷移增加的原因：
- 為什麼現(xiàn)在的電子產(chǎn)品必須要特別測(cè)試離子遷移，以前好像沒(méi)有聽(tīng)說(shuō)?
- 製程改變是否就會(huì)增加離子遷移的發(fā)生機(jī)率：
- 為什麼導(dǎo)入無(wú)鉛製程之后就容易發(fā)生離子遷移?
- 戶外移動(dòng)型與室內(nèi)用電子產(chǎn)品的離子遷移發(fā)生率比較：
- 戶外移動(dòng)型產(chǎn)品為什麼離子遷移的發(fā)生機(jī)率比較高?
- 離子遷移、CAF、錫鬚三者的差異：
- 離子遷移、CAF、錫鬚這三種東西是否是一樣，只是稱呼不同，如果不同差別在哪裡，如何區(qū)分?
- 離子遷移的生長(zhǎng)：
- 為什麼做離子遷移試驗(yàn)要用到恆溫恆濕機(jī)：
- 進(jìn)行離子遷移試驗(yàn)為什麼不可用冷熱沖擊機(jī)，只能夠用恆溫恆濕機(jī)?
- 離子遷移加速方式：
- 離子遷移試驗(yàn)的時(shí)間都很長(zhǎng)，有沒(méi)有辦法縮短時(shí)間?
- 離子遷移測(cè)試電路：
- 離子遷移的測(cè)試電路分為哪些類(lèi)型，其試驗(yàn)?zāi)康氖欠裣嗤?
- 離子遷移電壓：
- 進(jìn)行離子遷移試驗(yàn)時(shí)需要施加多少電壓才是正確的電壓?
- 離子遷移判定：
- 離子遷移的生長(zhǎng)速度：
- 離子遷移的生長(zhǎng)速度是一瞬間還是緩慢生長(zhǎng)?
- 離子遷移量測(cè)系統(tǒng)的功能：
- 離子遷移量測(cè)系統(tǒng)除了量測(cè)離子遷移之外還可以進(jìn)行哪些試驗(yàn)?
- 無(wú)鉛銲錫與離子遷移是否有關(guān)係：
- 離子遷移的生長(zhǎng)幅度與速度是否與無(wú)鉛銲錫有所關(guān)係?
- 什麼是CAF(導(dǎo)電性細(xì)絲物)：
- CAF如何生長(zhǎng)，其試驗(yàn)方法與離子遷移是否一樣，有沒(méi)有特殊的試驗(yàn)方式?
- CAF的生長(zhǎng)情況：
- 什麼樣的環(huán)境會(huì)造成CAF生長(zhǎng)?
- CAF的判定方式：
- 如何判定電路板有生長(zhǎng)CAF以及未來(lái)可能會(huì)長(zhǎng)出CAF
- 軟性電路板(FPC)的遷移試驗(yàn)：
- 軟性電路板(FPC)是否需要進(jìn)行離子遷移試驗(yàn)，如果有的話其試驗(yàn)條件與國(guó)際規(guī)范為何?
- 雙電壓與單電壓的差異性：
- 在表面絕緣電阻試驗(yàn)當(dāng)中，有分為所謂的單電壓與雙電壓，對(duì)于實(shí)驗(yàn)上有什麼差異?
- 正向電壓與逆向電壓的差異性：
- 雙電壓當(dāng)中又有分為正扁壓與逆偏壓，請(qǐng)問(wèn)這兩種偏壓對(duì)于實(shí)驗(yàn)是否有影響?
- 錯(cuò)誤的試驗(yàn)方式：
- 在進(jìn)行離子遷移試驗(yàn)中有哪些錯(cuò)誤的方式會(huì)造成實(shí)驗(yàn)失敗與失效?
- 待測(cè)品擺設(shè)方式：
- 進(jìn)行離子遷移試驗(yàn)時(shí)，待測(cè)品的擺設(shè)方式要怎麼樣擺設(shè)，需要注意哪些事情?
- 離子遷移試驗(yàn)與錫爐：
- 進(jìn)行離子遷移試驗(yàn)的PCB是否需要過(guò)錫爐?
- PCB使用壽命：
- 如何透過(guò)離子遷移試驗(yàn)去計(jì)算PCB的使用壽命？
